腐蝕損壞速率在很大程度上取決于試驗樣品表面的含氧鹽溶液和試驗樣品的溫度以及環(huán)境的溫度和濕度。

在試驗期間，噴霧時間足以使試驗樣品充分潤濕，而且噴霧還要在試驗樣品濕熱條件下貯存一段時間后重復(fù)進行因此這種試驗方法在某種程度上是模擬天然鹽霧環(huán)境的。

試驗樣品在噴霧過程中不通電；在濕熱貯存期間，通常也不通電本標(biāo)準(zhǔn)等效采用標(biāo)準(zhǔn)IEC 68—2—52（1984）《試驗Kb：交變鹽霧試驗方法》。

鹽霧試驗箱（室）必須用耐鹽霧腐蝕和不影響試驗結(jié)果的材料制造。鹽霧試驗箱（室）的結(jié)構(gòu)，包括產(chǎn)生鹽霧的方式應(yīng)能達到下述要求：

a.鹽霧試驗箱（室）的條件應(yīng)達到規(guī)定的范圍。

b.鹽霧試驗箱（室）應(yīng)有足夠大的容積，且保持均勻恒定的試驗條件（不受湍流的影響），試驗條件不因放入試驗樣品而受影響。

c.試驗期間鹽霧不得直接噴射到試驗樣品上。

d.鹽霧試驗箱（室）墻壁或其他部位積聚的液滴不得滴在試驗樣品上。

e.為防止箱內(nèi)壓力升高并保持鹽霧分布均勻，鹽霧試驗箱（室）內(nèi)應(yīng)有適當(dāng)?shù)呐艢饪祝?yīng)防止排氣孔在箱（室）內(nèi)壓力升高并保持鹽霧分布均勻，鹽霧試驗箱（室）內(nèi)應(yīng)有適當(dāng)?shù)呐艢饪祝?yīng)防止排氣孔在箱（室）內(nèi)產(chǎn)生強氣流。

 濕熱箱（室）應(yīng)滿足GB 2423.3—81《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Ca：恒定濕熱試驗方法》中的設(shè)備要求，即相對濕度為 溫度為40±2℃。

有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)應(yīng)該規(guī)定試驗樣品在試驗前的清潔方法，還應(yīng)該說明是否要去掉臨時涂封。清潔方法應(yīng)不影響鹽霧對試驗樣品的腐蝕作用，試驗前應(yīng)盡可能避免用手接觸試驗樣品的表面。

在恢復(fù)處理前和（或）后，對試驗樣品進行外觀檢查，并按有關(guān)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定對試驗樣品進行電性能和機械性能的檢測