可靠性高低溫試驗效果增長試驗是一個反復完善的過程，通過試驗產品的可靠性一個循環(huán)比一個循環(huán)向上增長?？煽啃栽鲩L試驗在研制階段通常有三種方法。

   方法一：試驗—問題記錄—再試驗。這種方法就是把初步研制的產品，通過試驗發(fā)現的問題集中分析進行改進，然后再試驗。通過這種試驗，可使產品的固有可靠性水平有一個較大的改進；

   方法二：試驗—改進—試驗。這種方法就是把初步研制的產品，通過試驗暴露產品的薄弱環(huán)節(jié)，分析產品的失效模式和失效機理，找出問題立即改進，然后再試驗，證實所解決的問題，使產品的固有可靠性得到增長。

   方法三：含延緩改進的試驗一改進一再試驗。這種方法是上述兩種方法的結合，試驗過程發(fā)現問題后，有些改進在試驗中立即進行，有些延緩到試驗結束后再作改進。經全面改進后再試驗驗證，使產品的固有可靠性得到全面的增長。

    本試驗主要是用于觀察在規(guī)定時間內恒溫高濕的影響。試驗在中進行，溫度為40±2℃，相對濕度為（93±3）%。試驗時間按試品的使用場合及材料性能選定下列時間中一種：2、4、6、10、21、56（天）。試驗絨束后，應除去器件外表水汽，在正常大氣條件下恢復1～2小時?；謴推诮Y束后立即開始測量，并且應首先測量那些對濕度改變最敏感的參數。通常在1～24小時內測量完畢，如果停留時間太長，進入器件的水汽會基本跑出來，有問題的器件就可能被漏過。

環(huán)境試驗

    環(huán)境試驗是指模擬產品可能遇到的自然環(huán)境，在這種條件下進行試驗。以檢驗產品適應環(huán)境的能力的方法。環(huán)境試驗的目的是用盡可能短的時間再現與實際環(huán)境產生的相同影響。通過施加能加速性能退化過程的應力來模擬元器件的壽命。這些試驗在元器件上產生的性能變化應盡可能地接近元器件壽命期間觀測到的影響，它是可靠性試驗的重要組成部分之一。

溫度循環(huán)試驗

    試驗的目的是考驗產品在較短時間內對高溫和低溫的承受能力，以了解是否因為熱脹冷縮的應力引起內部熱匹配性能不好的元器件失效，如材料開裂，接觸不良，參數惡化等。試驗在中進行。

高溫和低溫狀態(tài)的平衡時間取30分，室溫過渡時間小于1分，這比實際條件更為嚴醋，循環(huán)次數由有關標準規(guī)定3次或5次。

低溫試驗

    試驗的且的是考核低溫對產品的影響，確定產品在低溫條件下工作和貯存的適應性。試驗在高低溫試驗箱中進行。試驗溫度等級和試驗時間見表1，各任選其中一種。試驗結束后恢復時間為1～2小時。